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壓敏電阻的物理特性：

ＺｎＯ　壓敏電阻的非線性是一種晶粒邊界現象，即在相 鄰晶粒耗盡層中存在多數電荷載流子（電子）的勢壘。認 為肖特基勢壘像　ＺｎＯ　微結構中晶粒邊界勢壘。晶粒邊界 上的負表面電荷（電子捕獲）是由晶界面兩側晶粒的耗盡 層的正電荷來補償的。熱電子發射和隧道效應是主要的傳 輸機制。 近發展的壓敏電阻勢壘的晶粒邊界缺陷模型在改進 穩電壓應力下，壓敏電阻的穩定性上取得了很大進展。

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靜態電容量（PF）

靜態電容量指壓敏電阻器本身固有的電容容量。

響應時間τ

IEEE定義的壓敏電阻的響應時間τ并不是壓敏電阻材料本身的特性，而是由測試波形、引線、印制電路版的布線方式、外部測試連接線，以及它們所構成的磁環路等外部原因造成的，根據這一定義，對8/20 μs標準雷電流波或TS>8 μs的電流波，壓敏電阻的響應時間τ＝0。

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壓敏電阻沖擊電流作用下的老化機理

沖擊電流作用下主要是熱老化。能量迅速注入電阻片，溫度升高很多，使離子的能量大為增加，遷移力增大，使反偏壓側的Zni，Bi3+等向晶界遷移。

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