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壓敏電阻交流作用下的老化機理

交流作用下。在正半周時，假設右側為正極性，電壓主要加在右側的耗盡層上，使右側的Zni向晶界遷移，而左側所加電壓很低，Zn

i向晶粒內遷移不大；在負半周，電壓主要加在左側，使左側Zni向晶界遷移，右側這時所加電壓很低，Zni向晶粒體內遷移不大。總的結果是左右兩側的Zni都向晶界遷移。

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老化機理：

曾經被認為是老化的起因的有電子陷阱，偶極子轉向，氧脫附和離子遷移，目前能證實的只有填隙鋅離子遷移。一般認為老化是晶界現象，是由于耗盡層內離子遷移，而Zni是主要的遷移離子。

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